擊穿報(bào)警是耐電壓測(cè)試儀的一項(xiàng)基本功能。進(jìn)行測(cè)試前，一般在測(cè)試儀上預(yù)先設(shè)置一個(gè)漏電流的上限閾值；測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)被測(cè)件發(fā)生擊穿時(shí)，在絕緣材料的缺陷部位產(chǎn)生局部放電，引起漏電流呈指數(shù)型激增而超過(guò)所設(shè)定的上限閾值時(shí)，測(cè)試儀將自動(dòng)切斷高壓輸出，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。測(cè)試前預(yù)先設(shè)置的漏電流上限閾值也通稱(chēng)為“擊穿報(bào)警電流"。

按照JJG795--2004檢定規(guī)程檢定耐電壓測(cè)試儀的擊穿報(bào)警電流，目的是考查其設(shè)定值的準(zhǔn)確度，以保證測(cè)試儀在日常使用中能夠準(zhǔn)確地對(duì)漏電流作出超限判斷。但隨著技術(shù)的發(fā)展，新型耐電壓測(cè)試儀不僅在技術(shù)指標(biāo)上有了很大提升，更重要的是采用了新的漏電流測(cè)量原理，從而給檢定工作提出了新的問(wèn)題。

電壓測(cè)試儀擊穿報(bào)警的工作原理

基于電壓比較器實(shí)現(xiàn)擊穿報(bào)警功能

耐電壓測(cè)試儀一般在高壓輸出回路的低端串入一個(gè)分流電阻器，來(lái)產(chǎn)生與漏電流成正比的電壓降，然后再對(duì)這個(gè)電壓進(jìn)行處理，從而實(shí)現(xiàn)漏電流的測(cè)量和判斷。

早期，耐電壓測(cè)試儀均采用電壓比較器來(lái)實(shí)現(xiàn)擊穿報(bào)警功能，這類(lèi)測(cè)試儀需要通過(guò)預(yù)置按鍵或電位器來(lái)設(shè)定擊穿報(bào)警電流的大小。在測(cè)試過(guò)程中，比較器將分流電阻器上的電壓與預(yù)先設(shè)定的參考電壓直接進(jìn)行比較；如果前者大于后者，比較器就改變輸出狀態(tài)，觸發(fā)相應(yīng)的控制電路切斷高壓輸出并報(bào)警。目前這類(lèi)測(cè)試儀仍有生產(chǎn)和使用，如采用指針式表頭和按鍵預(yù)置方式的TOS8870A，以及采用數(shù)顯表頭芯片(如ICL7107)和電位器預(yù)置方式的國(guó)產(chǎn)系列測(cè)試儀。

基于單片機(jī)實(shí)現(xiàn)擊穿報(bào)警功能

隨著單片機(jī)技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用，耐電壓測(cè)試儀也逐步實(shí)現(xiàn)了程控化。單片機(jī)通過(guò)其內(nèi)部運(yùn)行的程序?qū)崿F(xiàn)對(duì)測(cè)試過(guò)程的控制，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的顯示。當(dāng)前生產(chǎn)和使用的大部分都是這類(lèi)基于單片機(jī)的程控型耐電壓測(cè)試儀。程控型測(cè)試儀取消了擊穿報(bào)警電流預(yù)置按鍵和調(diào)整電位器，不再通過(guò)硬件比較電路實(shí)現(xiàn)漏電流的超限判斷，而是由單片機(jī)軟件進(jìn)行處理。測(cè)試前通過(guò)鍵盤(pán)直接輸入漏電流的上限閾值；在測(cè)試過(guò)程中，單片機(jī)定期讀取ADC(A／D轉(zhuǎn)換器)的數(shù)據(jù)，然后計(jì)算出漏電流的當(dāng)前值，并與預(yù)置值進(jìn)行比較，從而實(shí)現(xiàn)漏電流的超限判斷。